Рис. 1. Схема оптического модуля для измерения спектральных коэффициентов
отражения:
1
— канал ввода синхротронного излучения;
2
— поворотные и фокусирующие
тороидальные зеркала;
3
— дифракционная решетка;
4
— сменный фильтр из кварца
или MgF
2
;
5
— мишень;
6
— люминесцентная пластинка из салицилата натрия;
7
—
ФЭУ регистрации пропущенного сигнала;
8
— ФЭУ регистрации опорного сигна-
ла;
9
— магниторазрядные вакуумные насосы;
10
— криостат;
11
— отсечные клапаны
Результаты расчета характерного спектра СИ в канале электрон-
ного накопителя синхротрона “Сибирь-1” приведены в работе [6]. Не-
смотря на то, что параметры собственно СИ рассчитываются достаточ-
но точно, метрология излучения непосредственно в зоне воздействия
представляет собой сложную задачу, так как после прохождения опти-
ческой схемы ВУФ-монохроматора параметры излучения существенно
изменяются. Зеркала и дифракционная решетка монохроматора име-
ют нестабильные спектры отражения, состояние их поверхности из-
меняется с течением времени, поэтому для определения спектральных
плотностей мощности излучения, падающего на мишень, используют-
ся ВУФ-детекторы и люминофоры с постоянным квантовым выходом
люминесценции в рассматриваемом диапазоне возбуждающего излу-
чения (и сравнение с поверенными ВУФ-спектрометрами).
Профилограммы, характеризующие состояние поверхности иссле-
дуемых образцов и спектры отражения в видимом диапазоне длин
волн (
hν
= 1
,
2
. . .
3
,
1
эВ), приведены на рис. 2.
Экспериментальные результаты.
Для исследуемых конструкци-
онных материалов в атмосферных условиях имеет место определенная
84
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2010. № 1
