Рис. 2. Профилограммы поверхностей исследованных образцов:
а
— Mo,
б
— Nb,
в
— Ti
спектральная зависимость коэффициентов отражения
R
(
λ, T
)
в ближ-
ней ИК–УФ области спектра. Спектральные коэффициенты отражения
исследуемого ряда образцов конструкционных материалов определе-
ны при температурах (
Т
1
∼
300
K,
Т
2
∼
77
K) мишеней с учетом
эффективности дифракционной решетки, найденной по спектрально-
му выходу в первом порядке. При нагреве в условиях даже высоко-
го вакуума на поверхности мишеней модификация приповерхностной
структуры приводит к существенному изменению спектров отраже-
ния в ВУФ области: для нагретых мишеней коэффициенты отражения
в ВУФ области спектра значительно снижаются с увеличением тем-
пературы. Исследование взаимосвязи между значениями индикатрисы
силы излучения, отраженного под выбранным углом при подсветке по
нормали изотропных поверхностей мишеней, и эквивалентным телес-
ным углом отраженного потока позволило определить оптимальные
углы зондирования для исследуемого диапазона длин волн (при оди-
наковой обработке поверхности образцов) и сравнивать индикатрисы
силы отраженного излучения.
Некоторые результаты экспериментального определения спек-
тральных коэффициентов отражения
R
(
λ
)
в ВУФ области спектра
(при температуре
Т
∼
300
K) для ряда образцов конструкционных
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2010. № 1
85
