ничен. Отметим, что и у относительно хорошо изученных полимер-
ных материалов (и тонкопленочных структур на их основе) значения
квантового выхода люминесценции, полученные различными экспе-
риментальными группами, существенно различаются, особенно для
коротковолновой области спектра [2, 3].
В фотонных энергоустановках высокой плотности мощности, та-
ких как оптические ускорители и плазмотроны, плазменно-лазерные
инжекторы, термоэмиссионные плазменно-оптические преобразовате-
ли и т.п., плазменные активные среды, в том числе и светоэрозионные,
при высоких температурах (
Т
е
1
. . .
5
эВ) являются источником ши-
рокополосного коротковолнового излучения с максимальной интен-
сивностью в ультрафиолетовой (УФ) и вакуумной ультрафиолетовой
(ВУФ) областях спектра; температура конструкционных элементов та-
ких энергоустановок в цикле различных импульсно-периодических ре-
жимов воздействия может изменяться от криогенных температур до
температур фазовых переходов. Поэтому для расчета характеристик
тепломассобмена необходимы данные о спектральных коэффициентах
отражения и поглощения, квантовом выходе и динамике люминесцен-
ции для конструкционных материалов в УФ–ВУФ областях спектра в
широком диапазоне температур с учетом технологически достижимо-
го уровня обработки поверхности.
Как известно, измерение оптических характеристик конденсиро-
ванных сред в ВУФ области спектра представляет собой значительную
экспериментальную сложность, во-первых, из-за отсутствия достаточ-
но ярких (не менее 1 мкВт/(мрад
2
∙
нм)) и широкополосных источни-
ков излучения в этой области спектра, во-вторых, из-за необходимо-
сти проведения прецизионных измерений в вакууме. Исследования по
спектроскопии конденсированных сред в ВУФ области спектра вы-
полняются в основном с использованием газоразрядных источников
с линейчатым эмиссионным спектром, что ограничивает эксперимен-
тальные возможности в этом спектральном диапазоне как по числу
доступных частот, так и по спектральной яркости зондирующих ис-
точников; решить эту задачу помогает использование синхротронного
излучения.
Синхротронное излучение (СИ) — как излучение релятивистских
заряженных частиц, возникающее при их движении по криволиней-
ным траекториям в поперечных магнитных полях, благодаря своим
уникальным свойствам в значительной мере определяет уровень со-
временных экспериментальных исследований в области оптики кон-
денсированных сред. Высокая спектральная яркость, непрерывный (от
инфракрасной до рентгеновской области) эмиссионный спектр, острая
направленность и высокая степень поляризации, возможность точного
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2009. № 4
89
