Расшифровка дифракционных картин сложных кристаллических структур с применением 3D-модели обратного пространства кристаллических решеток

1 / 8

DOI: 10.18698/1812-3368-2016-2-34-41
УДК 548
РАСШИФРОВКА ДИФРАКЦИОННЫХ КАРТИН СЛОЖНЫХ
КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР С ПРИМЕНЕНИЕМ 3D-МОДЕЛИ
ОБРАТНОГО ПРОСТРАНСТВА КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ РЕШЕТОК
Д.В. Зайцев
Всероссийский институт авиационных материалов,
Москва, Российская Федерация
e-mail:
При дифракционных исследованиях многофазных сплавов возникает необхо-
димость расшифровки картин дифракции, содержащих множество фазовых
рефлексов, сформированных кристаллографически эквивалентно ориентиро-
ванными в матрице выделениями фаз. Подобные задачи позволяет решать
построение в трехмерном пространстве модели узлов обратной решетки ма-
трицы и фазы с учетом всех кристаллографически эквивалентных ориентаций
фазы в матрице. Центральное сечение такой модели соответствует электро-
нограмме, получаемой в просвечивающем электронном микроскопе. При соот-
ветствующих поворотах модели в обратном пространстве можно получить
любую ось зоны в сечении. Возможность управления отображением в моде-
ли любых кристаллографически эквивалентных вариантов ориентаций фазы в
матрице позволяет разделить рефлексы различных фаз и их кристаллографи-
чески эквивалентные ориентации на любых осях зон.
Ключевые слова: дифракционная картина, кристаллографически эквивалентная
ориентация, построение Эвальда.
DECRYPTION OF DIFFRACTION PATTERNS WITH COMPLEX CRYSTAL
STRUCTURES USING 3D-MODEL OF THE RECIPROCAL SPACE
OF CRYSTAL LATTICES
D.V. Zaytsev
All-Russian Institute of Aviation Materials, Moscow, Russian Federation
e-mail:
When doing diffraction studies of multiphase alloys, it is necessary to decrypt
the diffraction patterns comprising a great number of phase reflexes formed by
crystallographic equivalently oriented in the matrix phase separation. Similar
problems can be solved by constructing a three-dimensional space model of reciprocal
lattice points of the matrix and phase, taking into account all crystallographic
equivalent phase orientations in the matrix. The central section of such a model
corresponds to the electron-diffraction pattern, received in a transmission electron
microscope. It is possible to obtain any zone axis in the section if the model is properly
rotated in the reciprocal space. The ability to control the reflection of crystallographic
equivalent phase orientations in the model makes it possible to split the reflexes of the
various phases and their crystallographic equivalent orientation in any zone axes.
Keywords: diffraction pattern, crystallographic equivalent orientation, Ewald
construction.
Введение. Условия использования авиационной и космической
техники предопределяют жесткие требования к материалам. Они
должны обеспечить прочность конструкции при воздействии значи-
тельных силовых нагрузок, повышенной и пониженной (до – 253◦ С)
34 ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2016. № 2