Рис. 2. График калибровки ПЗС-матрицы по спектру ртути
Рис. 3. Спектры излучения полупроводникового лазера (
1
) и излучения, про-
шедшего сквозь фотонный кристалл на основе матрицы опала (
2
)
прошедшего излучения
Δ
λ
m
=
λ
m
−
λ
L
. Для гомогенных образцов за-
висимость
Δ
λ
m
=
f
(
λ
L
)
соответствует сдвигу максимума в красную
область спектра, однако этот график, близкий к линейному (рис. 4),
может образовывать с осью
λ
L
как острый, так и тупой угол. Это
означает, что для него имеет место либо фиолетовая, либо красная
граница (этой границе соответствует условие
Δ
λ
m
= 0)
. Результат
не зависит от толщины образца. Следовательно, существуют два ти-
па 3D-фотонных поликристаллов на основе опаловой матрицы. Они
различаются характером ориентации зависимости сдвига максимума
интенсивности прошедшего света от длины волны, соответствующей
максимуму интенсивности падающего излучения, т.е. исследование
зависимости
Δ
λ
m
=
f
(
λ
L
)
позволяет установить оптическую класси-
фикацию свободных фотонных поликристаллов.
Зависимость
Δ
λ
m
=
f
(
λ
L
)
также была обнаружена для образцов,
наполненных CuSO
4
, а также Fe(CH
3
COO)
3
.
Для ГЦК-решетки наиболее характерны плоские дефекты [2, 3, 6],
которые были подробно исследованы в настоящей работе. Дефекты
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2006. № 3
87
