ком при освещении узким лазерным пучком неровной поверхности
S
,
можно после усреднения по ансамблю флуктуаций турбулентной среды
представить в следующем виде
[8]:
P
≈
1
(2
π
)
2
ZZ
S
Γ
отр
(
~r, ~r
0
)Γ
п
(
~r, ~r
0
)(
~n
(
~r
)
~q
п
(
~r
))(
~n
(
~r
0
)
~q
п
(
~r
0
))
d~rd~r
0
,
(5)
где
~q
п
(
~r
) =
−
k
∇
(
|
~r
−
~r
п
|
)
;
k
= 2
π/λ
—
волновое число
;
~n
(
~r
)
—
еди
-
ничный вектор нормали к поверхности
S
в точке
~r
;
~r
п
—
точка
,
в кото
-
рой расположен приемник излучения
;
Γ
отр
(
~r, ~r
0
) =
u
отр
(
~r
)
u
∗
отр
(
~r
0
)
®
—
функция когерентности отраженного излучения на поверхности
S
—
излучения
,
прошедшего в турбулентной атмосфере трассу
“
источник
—
поверхность
”
и отраженного от поверхности
(
угловые скобки озна
-
чают усреднение по ансамблю флуктуаций турбулентной среды
,
u
отр
(
~r
)
—
отраженное от поверхности
S
поле
);
Γ
п
(
~r, ~r
0
)
—
функция когерент
-
ности излучения фиктивного источника с параметрами приемника в
турбулентной атмосфере
.
Величина
Γ
п
(
~r, ~r
0
)
безразмерная
.
Если эту
величину умножить на
1
Вт
·
м
−
2
,
то полученная величина будет соот
-
ветствовать функции когерентности излучения
,
падающего на поверх
-
ность
S
от фиктивного источника с параметрами приемника
.
При этом
полагают
,
что размер передающей апертуры фиктивного источника ра
-
вен размеру приемного объектива
,
угол расходимости излучения источ
-
ника
—
угловому полю зрения приемной оптической системы
,
а мощ
-
ность фиктивного источника полагают равной
1
Вт
[1, 2].
Использование формулы
(5)
позволяет существенно упростить ре
-
шение задачи рассеяния лазерного пучка на неровной земной поверх
-
ности и свести задачу определения энергетических характеристик ла
-
зерных сигналов на трассе с отражением к гораздо более простой зада
-
че вычисления характеристик лазерных сигналов на двух прямых
(
без
отражения
)
трассах
: “
источник
—
поверхность
”
и
“
фиктивный источ
-
ник
—
поверхность
”.
В формулу
(5)
входит функция
Γ
отр
(
~r, ~r
0
)
.
Основной же характе
-
ристикой отражающих свойств поверхности
,
обычно используемой на
практике
,
является индикатриса отражения
,
которая определяется че
-
рез фотометрические характеристики излучения как отношение ярко
-
сти исследуемой поверхности в данном направлении к яркости идеаль
-
ного рассеивателя
.
Фундаментальная связь между фотометрическими характеристика
-
ми поля излучения и его статистической структурой подробно иссле
-
дована
(
например
,
в работах
[13, 14]).
Показано
,
что пространственная
ISSN 1812-3368.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. “
Естественные науки
”. 2004.
№
3
83