Previous Page  8 / 13 Next Page
Information
Show Menu
Previous Page 8 / 13 Next Page
Page Background

Управление формой пучка технологического ионного источника…

ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Естественные науки. 2017. № 3

31

Профили ионного тока на различных расстояниях от среза ускорителя, соот-

ветствующие зависимостям магнитного поля, приведенным на рис. 4, показаны на

рис. 5. Когда параметр

А

существенно положителен (рис. 5,

а

), воздействия силы

Лоренца на ионы при их прохождении над полюсом

5

недостаточно для полной

компенсации азимутального поворота, приобретенного в ускорительном канале.

При близком к нулю значении параметра

A

(рис. 5,

б

) действие на ионы компенси-

рующего магнитного поля близко к действию магнитного поля в ускорительном

канале. В этом случае угол поворота ионов равен нулю и они возвращаются на свои

первоначальные траектории. Наконец, при существенно отрицательном значении

параметра

А

(рис. 5,

в

) компенсирующее магнитное поле оказывает значительно

большее влияние на движение ионов, чем магнитное поле в ускорительном канале.

При этом наблюдается «перефокусировка» пучка.

Используя параметр

А

, можно оценить положение наиболее вероятного

места появления ионов в ускорительном канале. Для этого необходимо измене-

нием соотношения магнитных полей основной и компенсирующей магнитных

систем добиться наилучшей фокусировки ионного пучка, когда значение пара-

метра

А

близко к нулю. При неизвестном положении зоны максимальной иони-

зации в качестве начальной точки интегрирования удобно выбрать положение

анода. При этом зависимость

A

(

x

) будет асимптотически стремиться к прямой,

параллельной оси абсцисс. Координата точки пересечения этой прямой с зави-

симостью

A

(

x

) будет координатой зоны максимальной ионизации.

В качестве примера рассмотрим распределение магнитного поля в ускорите-

ле УАС-200К [13] (рис. 6,

а

, начало координат оси абсцисс лежит на поверхно-

сти анода), при котором достигается хорошая фокусировка ионного пучка

(рис. 6,

б

). Зависимость

А

(

х

) показана на рис. 6,

в

.

Рис. 6.

Зависимость индукции магнитного поля от расстояния до анода (

а

); профиль

плотности ионного тока в точке фокуса ионного пучка (

б

), зависимость параметра

А

от расстояния до анода (

в

)

Распределение магнитного поля вдоль оси ускорителя измерялось гауссмет-

ром

AlphaLab GM-2

с точностью 1 %. Измерения проводились вне вакуумной

камеры на ускорителе, закрепленном на стапеле. Датчик Холла перемещался по