зующий разработанный метод, предназначенный для моделирования
рассматриваемых процессов на высокопроизводительных многопро-
цессорных суперкомпьютерах.
Разработанный алгоритм является развитием статистических мо-
делей, предложенных авторами ранее [7, 9–11]. В них разработаны и
обоснованы модификации метода Монте-Карло, созданы алгоритмы
переноса электронов и фотонного излучения в веществе. Эффектив-
ность алгоритмов оценивалась в сравнительных расчетах, в том числе
с использованием широко известного пакета MCNP [12]. Сравнение
с MCNP для простой геометрии объекта (пластина) [7] показало, что
при одном и том же уровне статистической погрешности расчет с ис-
пользованием MCNP требует в 10–50 раз больше времени, чем расчеты
с использованием предложенных в статье алгоритмов. Отметим так-
же, что разработанный метод статистического моделирования эмис-
сии электронов с внешних и внутренних границ облучаемых объектов
ориентирован на сложные многокомпонентные объекты. Это обстоя-
тельство, по мнению авторов, является важным достоинством метода,
который выделяет его из множества аналогичных статистических мо-
делей и алгоритмов.
Работа выполнена при поддержке Программы фундаментальных
исследований Президиума РАН № 2 “Интеллектуальные и информаци-
онные технологии, математическое моделирование, системный ана-
лиз и автоматизация”.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1. M i k h a i l B. M a r k o v, M i k h a i l E. Z h u k o v s k i y. Modeling the
radiative electromagnetic field. International Journal of Computing Science and
Mathematics. – 2008. – Vol. 2, No.1/2. – P. 110–131.
2. Э л е к т р о д и н а м и ч е с к о е действие ионизирующих излучений /
С.Н. Ганага, Л.Н. Здуход, С.В. Пантелеев и др. // Физика ядерного взрыва / Под
ред. В.М. Лоборева. T. 2. – C. 107.
3. Н е р а з р у ш а ю щ и й контроль. Россия. 1900–2000 гг.: Справочник / Под
ред. В.В. Клюева. – 2-е изд., исправ. и доп. – М.: Машиностроение, 2002.
4. М о р г о в с к и й Л. Я., Х а к и м ь я н о в Р. Р. Использование флюорометал-
лических усиливающих экранов с пленками типа РТ при рентгенографическом
контроле // Дефектоскопия. – 1985. – № 1.
5. I b a c h H. Electron spectroscopy for surface analysis / Ed. by H. Ibach. Berlin:
Springer, 1977. – P. 1.
6. К о в а л е в В. П., Х а р и н В. П., Г о р д е е в В. В. и др. // Атомная энергия.
– 1972. – Т. 32, вып. 4. – С. 342.
7. Ж у к о в с к и й М. Е., С к а ч к о в М. В. О статистических методах модели-
рования переноса электронов в веществе // Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана.
Сер. “Естественные науки”. – 2009. – № 1. – C. 31–46.
8. А к к е р м а н А. Ф. Моделирование траекторий заряженных частиц в веще-
стве. – М.: Энергоатомиздат, 1991. – 200 с.
86
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2009. № 4
