таких установках при взаимодействии излучений с элементами кон-
струкции и с измерительной аппаратурой возникает электромагнитное
поле, которое сказывается на развитии исследуемого в эксперименте
процесса и на результатах измерений. Анализ электромагнитного поля
радиационного происхождения вблизи и внутри различных объектов,
содержащих электронную аппаратуру, требует рассмотрения и реше-
ния ряда важных проблем, таких как исследование трансформации
и рассеяния потоков ионизирующего излучения в трехмерных мно-
гокомпонентных объектах с учетом сложной внутренней структуры
и геометрии объекта, а также спектрального состава излучения от
источника; расчет и анализ пространственного распределения пото-
ков заряженных частиц, порождаемых ионизирующим излучением в
окружающей объект среде и различных материалах конструкций.
Другой важной областью исследований является развитие методов
математического моделирования процессов, обусловливающих функ-
ционирование современной аппаратуры, применяемой в неразруша-
ющем контроле материалов и конструкций [3], в частности процес-
сов формирования тормозного излучения в проектируемых рентгенов-
ских аппаратах, процессов регистрации ионизирующего излучения в
перспективных детектирующих системах, а также при использовании
свойств усиливающих экранов [4]. Решение задач данной проблема-
тики требует разработки: 1) моделей и алгоритмов для исследований
пространственного и энергетического распределений электронов в ми-
шенях рентгеновских аппаратов и в материалах усиливающих экранов;
2) математических моделей, описывающих различные способы реги-
страции и детектирования фотонного и электронного излучений.
Кроме того, изучение электронной эмиссии с поверхностей объ-
ектов является важной частью исследований структуры поверхности
твердого тела [5]; эмиссия электронов усложняет измерения в экспе-
риментах с пучками на ускорителях [6].
Знание физических характеристик эмитируемых электронов — вы-
ходов, угловых и энергетических распределений, механизмов рожде-
ния и взаимодействия этих электронов с веществом является исходным
пунктом исследований в упомянутых областях.
Моделирование эмиссии электронов с внешних и внутренних гра-
ниц облучаемых объектов подразумевает моделирование процесса ро-
ждения быстрых электронов, появляющихся в результате взаимодей-
ствия гамма-излучения с материалами объектов; моделирование пере-
носа электронов внутри объекта до выхода их на границу; построение
методов регистрации электронов, покидающих объект.
В работе [7] предложены и реализованы эффективные статисти-
ческие модели переноса электронов в веществе, основанные на под-
ISSN 1812-3368. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Естественные науки”. 2009. № 4
73
